Tid: 18 september 2000 kl 1515-1600
Plats : Seminarierummet 3733, Institutionen för matematik, KTH, Lindstedts väg 25, plan 7. Karta!
Föredragshållare: Johan Tegin .
Titel: Statistical analysis of tunable semiconductor laser reliability data
Sammanfattning:
Detta examensarbete för civilingenjörsexamen innehåller den grundläggande teorin för att kvantitativt utvärdera tillförlitligheten hos avstämbara halvledarlasrar. Bland annat avhandlas ämnen som parameterskattning, accelererad testning, Arrhenius-relationen och konfidensintervall. Begränsningar och antagande förklaras och utvärderas med kontinuerliga referenser till ämneslitteraturen. Ett programpaket som kan utföra alla beräkningar i uppsatsen har även utvecklats i språket MATLAB.